See All News
Valerik Vardanyan
Position: Manager II at Synopsys, senior research associate

Phone: (+374 91) 918357, (+374 10) 249868
E-mail: valery_vardanian@yahoo.com




  Titles, Degree

PhD in Mathematical Cybernetics (1987)

 
  Education

Yerevan State University 1975-1980, Postgraduate courses at NAS Armenia, 1981-1983

 
  Professional Experience

Institute of Informatics& Automation Problems, 1983-2000 (full-time), 2000-present (part-time)

Virage Logic Inc. Yerevan Branch, 2000-2011

Synopsys Inc., Armenia, 2011- present

Yerevan State University, 2000-present (part-time) 
 
  Research Interests

Boolean functions, test & repair of memory devices

 
  Selected Publications
В. А. Варданян, “О сложности тестов активностей для частичных булевых функций”, Автоматика и телемеханика, Москва, Изд-во Наука, # 7, стр. 118-124, 1986.

В. А. Варданян, “О сложности единичных динамических тестов для монотонных булевых функций”, “Кибернетика”, Киев, Изд-во “Наукова думка”, # 3, стр. 23-26, 1987.

В. А. Варданян, “Об одном методе синтеза легко тестируемых схем”, Автоматика и телемеханика, Москва, Изд-во Наука, # 7, стр. 136-139, 1987.

В. А. Варданян, “О сложности динамических тестов для функций к-значной логики”, “Кибернетика”, Киев, Изд-во “Наукова думка”, # 3, стр. 29-36, 1988.

Shoukourian, V. A. Vardanian, Y. Zorian, SoC yield optimization via an embedded memory test and repair infrastructure, IEEE Design & Test of Computers, vol.21, May-June, 2004, pp. 200-207.

Y. Zorian, G. Torjyan, A. Harutyunyan, V. Vardanian, Apparatus, method, and system to allocate redundant components with subsets of the redundant components, US Patent, No. 7,149,921, USA, 2006.

G. Harutunyan, V. A. Vardanian, Y. Zorian, “Minimal March Tests for Dynamic Faults in Random Access Memories”, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Vol. 23, Number 1, February 2007, pp. 55-74 (in English). 

Aleksanyan  K., Amirkhanyan K., Shoukourian S., Vardanian V., Zorian Y., “Memory Modeling Using an Intermediate Level Structural Description”, US Patent, No 7768840, USA, 2010.

K. Aleksanyan, V. A. Vardanian, Y. Zorian, “Various methods and apparatuses for effective yield enhancement of good chip dies having memories per wafer”, US Patent No. 7890900, USA, 2011. 

A. Hakhumyan, G. Harutyunyan, S. Shoukourian, V.A. Vardanian, Y. Zorian, “Symmetry Measure for Memory Test and Its Application in BIST Optimization”, Journal of Electronic Testing : Theory and Applications (JETTA), 2011 , Vol. 27, No. 6, pp.753-766. 

Alexanyan K., Amirkhanyan K., Karapetyan S., Shoukourian S., Shubat A., Vardanian V., Zorian Y., “Various methods and apparatuses for memory modeling using a structural primitive verification for memory compilers”, US Patent No. 8,112,730, 2012.

G. Harutyunyan, S. Shoukourian, V. Vardanian, Y. Zorian, “A New Method for March Test Algorithm Generation and Its Application for Fault Detection in RAMs”, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 31, No. 6, June 2012, pp. 941-949.

K. Alexanyan, V.A. Vardanian, Y. Zorian, “Various Methods and Apparatuses for Effective Yield Enhancement of Good Chip Dies Having Memories Per Wafer”, US Patent No. 8,359,553, 2013.-18 p.

K. Amirkhanyan, H. Grigoryan, G. Harutyunyan, T. Melkumyan, S. Shoukourian,  A. Shubat,  V. Vardanian, Y. Zorian, Detecting Random Telegraph Noise Induced Failures In An Electronic Memory, US Patent 8,850,277, 2014.

H. Grigoryan, G. Harutyunyan, S. Shoukourian, V. Vardanian, Y. Zorian, Determining a desirable number of segments for a multi-segment single error correcting coding scheme, US Patent No. 9,053,050, 2015.


 
News
ՀՀ ԳԱԱ Ինֆորմատիկայի և ավտոմատացման պրոբլեմների ինստիտուտի  <<Կոդավորման և ազդանշանների մշակման>> բաժինը աշխատանքի է հրավիրում մաթեմատիկական և տեխնիկական կրթությամբ մագիստրոսների, ինչպես նաև 4-րդ կուրսի ուսանողների հետևյալ ուղություններում`
  • Գաղտնագրություն (Cryptography)
  • Կոդավորման Տեսություն (Coding Theory)
  • Պատկերների մշակում (Image Processing)
  • Ազդանշանների մշակում (Signal Processing)
  • Համակարգչային տեսանելիություն (Computer Vision) 
Պահանջներ՝
  1. Խորը գիտելիքներ հանրահաշվից և թվային մեթոդներից
  2. Անգլերենի իմացությունը պարտադիր է, ռուսերենի իմացությունը՝ ցանկալի:
  3. Ցանկալի է առնվազն մեկ ծրագրավորման լեզվի իմացություն:
  4. Աշխատանքային փորձը պարտադիր չէ:
Աշխատանքին դիմելու համար կարող եք ինքնակենսագրականը (CV) ուղարկել
sabrahamyan@sci.am  էլեկտրոնային հասցեին:




                                                           
CONTACTS
  • 0014, Yerevan, Republic of Armenia, 1, P. Sevak str.
  • Phone: (+37410) 28-20-50
  • E-mail: iiap@sci.am
ABOUT INSTITUTE
SCIENTIFIC ACTIVITY
EDUCATION